健康・生活向上のための新製品開発
Particle Size Analysis
Laser Diffraction Analysis
Dynamic Light Scattering (DLS)
粒徑分析儀
靜態光散射光度計
高分子相結構分析系統
多通道分光光譜儀
光學膜厚量測儀
光波動場3D顯微鏡
相位差檢測設備
線掃描膜厚檢測系統
LineScan桌上膜厚檢測系統
LineScan線上膜厚檢測系統
LineScan wafer檢測系統
量子點對應彩色濾光片色度檢查 顯微分光測定裝置 TLCF 200QD
彩色濾光片色度檢查 小型高精細顯微分光測定裝置 TLCF-110-SF
桌上型彩色濾光片檢測設備LCF6000進化
FPD平面顯示器光譜分析設備MD series
液晶層間隙檢測設備RETS series
彩色濾光片檢測設備LCF series
Inline線上即時檢測(彩色濾光片製程) cfHead
顯示器面板&模組檢測設備LCD series
量子效率量測系統QE-2100
LED高速光譜分析儀LE-5400
配光量測系統GP series
光通量量測系統(積分球/積分半球)FM/HM series
micro LED光度量測系統 AL-1000
微小化反射率量測設備及LED導線架
Standalone型晶圓厚度量測&產線上膜厚量測設備TE series
Wafer loadport equipment
EFEM
In-situ metrology units
Semiconductor measurement equipment (GS-300)
Qsep Ultra electrophoresis equipment
Quantum dot photoresist EQE measurement instrument (TQ-10)
Color filter evaluation device for quantum dot RGB emission
