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01 企業検索JPID 196705
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JFEテクノリサーチ株式会社

JFE Techno Research Co., Ltd.別名
銘柄コード
—
上場市場
—
国
Japan
従業員（連結）
1,420
関連会社
0
§01

基本情報

BASIC
所在地
東京都千代田区大手町一丁目6番1号　大手町ビル4 階
社長
花澤 和浩
資本金
100,000,000
従業員数(単独)
従業員数(連結)
1,420 人
開始日
2004-10-01
終了日
§02

サイト

1 DOMAINS
§03

事業内容

92
カーボンニュートラル推進支援サービスカーエレクトロニクス製品の環境耐久性評価・分析・解析技術製品の安全性試験PFAS分析・測定サービス分析、評価、調査、解析技術を組み合わせたワンストップサービス金属材料評価樹脂・複合材料評価メディカル分野の各種試験評価磁性材料、モータ評価電池・電池材料評価電子部品・電子デバイス評価社会インフラ維持管理・大型構造物評価サーキュラーエコノミー（CE）技術支援ペロブスカイト太陽電池評価水電解の評価技術固体高分子形燃料電池の評価技術耐候性評価（耐候性試験）オンサイト分析分析アウトソーシング排ガス・環境大気調査廃棄物調査作業環境測定騒音振動・臭気調査ダイオキシン（DXN）類の分析PCB分析環境汚染物質分析各種材料試験・評価解析材料試験振動試験と振動解析技術金属3DP積層造形材の評価熱特性評価材料評価・解析ソリューション環境耐久試験部品評価試験不具合調査材料試作(溶解・加工・熱処理)材質調査、各種特性調査残留応力測定大型構造物・部材の試験溶接部性能評価溶接試作溶接に関するコンサルティングハイパースペクトルカメライメージング分光システム膜厚分布測定装置（FiDiCa®）医薬品・食品異物検査ソリューションNIR異物検査装置近赤外3波長ラインセンサカメラ赤外線カメラソリューションサーマルロックイン解析システム赤外線カメラによる気流の可視化面歪み測定 SurfTRiDY透視歪測定装置 PersTRiDYデジタル画像相関法によるひずみ・変位解析超音波を用いた計測その他の検査・計測技術CAEソリューション技術・市場調査サービス知的財産（特許調査・特許教育）翻訳サービスDTPによる各種印刷物制作技術プレゼンテーション支援設備・プロセスの試験・設計・製作触媒の評価と開発支援バイオマスの利用と評価医薬品・食品異物検査分析化学分析医薬品分析物理分析環境分析標準物質の作製・販売試験（材料の特性評価）機械的特性の調査材料組織の調査データサイエンス サービス技術調査・知的財産品質・環境・経営マネジメント印刷物の企画制作技術プレゼンテーション建築・土木・造船・重機溶接材料・溶接ロボット自動車(薄板のスポット溶接試験)溶接技量付加試験デジタル画像相関法によるひずみ・変位計測ディープラーニングデータ前処理生産・物流コスト最適化設備の異常診断、劣化診断セマンティック セグメンテーションオントロジー技術DX基礎講座
§04

関連会社

0 COMPANIES

—

§05

関連図

NETWORK
資本関係 得意先 仕入先 業務提携 銀行・株主 ドラッグで移動 · クリックで詳細へ
§06

沿革

1 EVENTS

JFEテクノリサーチ株式会社は、2004年10月1日に、川鉄テクノリサーチ（株）、鋼管計測（株）、日本鋼管テクノサービス（株）の3社が合併し、発足した会社です。

§07

ニュース

20 ARTICLES

新しいリーフレットを掲載しました ↗

2026年10月7日、FRPの層間せん断強さ評価やモータコアの表面抵抗測定、水電解セルの過電圧分離測定など、各種試験・評価技術に関する新しいリーフレット15件を掲載しました。

第17回 高機能フィルム開発・製造展に出展いたしました ↗

JFEテクノリサーチは、2026年9月30日から10月2日まで幕張メッセ展示ホール1で開催される第17回高機能フィルム開発・製造展に出展しました。ブースでは膜厚分布測定装置「FiDiCa®」や赤外線カメラを用いた気流可視化技術などを紹介しました。来場者に感謝の意を表しました。

オートモーティブワールド秋2026に出展 ↗

JFEテクノリサーチ株式会社は、2026年9月9日（水）から11日（金）に開催されたオートモーティブワールド秋2026 EV・HV・FCV技術展に出展しました。展示では、電気自動車用モータや電磁応用機器向け材料の評価・解析技術を紹介し、来場者に感謝の意を表しました。

超短鎖PFAS分析サービスを開始 ↗

JFEテクノリサーチは、従来法では測定が難しかった炭素数1～3の超短鎖PFASを対象とする分析サービスの提供を開始しました。特殊カラムと高性能LC-MS/MSを用い、分解生成物を含むPFAS評価を行い、製品開発や品質保証、環境管理、規制対応を支援します。

JFEテクノリサーチ、水電解評価試験装置を販売開始 ↗

JFEテクノリサーチは、グリーン水素製造技術の研究開発を支援する水電解評価試験装置の販売を開始する。電流や温度、流量などを精密に制御し、初期性能から長時間の耐久性まで評価できる。接液部を金属フリーとすることで金属イオン溶出の影響を排除し、セル部材の開発や設計に役立つ高精度な試験データを提供する。

ZEISS INNOVATION SUMMIT 2026で基調講演 ↗

JFEテクノリサーチで長年、分析・評価技術の発展に携わってきた佐藤馨氏が、ZEISS INNOVATION SUMMIT 2026で基調講演を行います。講演テーマは産業分野の顕微鏡技術「Microscopy for Industry - Sweet Spot Imaging」で、イベントは2026年11月4～6日にドイツ・ベルリンで開催されます。

次世代3次元X線顕微鏡の解析サービス開始 ↗

JFEテクノリサーチは、国内初導入のSigray社製3次元X線顕微鏡「ApexHybrid-210™」を用いた非破壊解析技術を確立しました。全固体電池や半導体パッケージなどの解析事例を公開し、2026年8月から受託分析サービスの本格提供を開始しました。

ペロブスカイト太陽電池の一貫評価開始 ↗

JFEテクノリサーチは、ペロブスカイト太陽電池向けの包括的な受託評価サービスを本格開始しました。材料分析・膜構造解析からモジュール性能試験・耐久性評価まで一貫して提供し、研究開発から実証・量産までの技術課題解決を支援します。

JFEテクノリサーチ、DX基礎講座をJFE Resolus®で提供開始 ↗

JFEテクノリサーチは、JFEスチールが展開する製造業向けソリューションブランド「JFE Resolus®」の一環として、製造業のDX推進を支援する「DX基礎講座」を2026年7月8日から提供開始しました。講座は、同社が蓄積したDX・DS技術をベースに実践的な内容で構成され、製造業各社のデジタルリテラシー向上とDX推進に貢献することを目的としています。

§08

公的データ

GOV
国税庁・基本情報4010001090119
商号又は名称
ＪＦＥテクノリサーチ株式会社
フリガナ
ジェイエフイーテクノリサーチ
英語名
法人種別
301
住所
〒100-0004 東京都千代田区大手町１丁目６番１号
郵便番号
1000004
都道府県コード
13
市区町村コード
101
国外所在地
国内所在地（都道府県）英語
国内所在地（市区町村等）英語
国外所在地（英語）
法人番号指定年月日
2015-10-05
更新年月日
2023-02-10
変更年月日
2023-02-06
登記記録の閉鎖等年月日
登記記録の閉鎖等の事由
承継先法人番号
変更事由の詳細
最新履歴
1
検索対象除外
0
処理区分
12
訂正区分
0
商号又は名称イメージID
国内所在地イメージID
一連番号
1720191
出典：国税庁法人番号公表サイト 基本3情報
経済産業省・gBizINFO4010001090119
法人番号
4010001090119
商号又は名称
ＪＦＥテクノリサーチ株式会社
商号又は名称（カナ）
ジェイエフイーテクノリサーチ
商号又は名称（英字）
登記記録の閉鎖等年月日
登記記録の閉鎖等の事由
登記住所
東京都千代田区大手町１丁目６番１号
郵便番号
1000004
都道府県
東京都
都道府県コード
13
市区町村（郡）
千代田区
市区町村コード
101
番地以下
大手町１丁目６番１号
組織種別
301
処理区分
12
訂正区分
0
状態
代表者名称
代表取締役　花澤　和浩
資本金
従業員数
1395
企業規模詳細(男性)
企業規模詳細(女性)
事業概要
技術サービス
WebサイトURL
https://www.jfe-tec.co.jp
創業年
事業種目
L:学術研究、専門・技術サービス業
設立年月日
1979-11-01
全省庁統一資格-資格等級
A|A|A|
全省庁統一資格-営業品目
104|105|106|116|117|118|119|127|128|129|204|205|206|216|217|218|219|227|228|229|301|303|304|305|306|309|313|315
更新年月日
2023-02-10
キー情報
4010001090119
出典：Gビズインフォ（経済産業省）
§09

出典・更新

SOURCES
DOMAIN単独ドメイン：あり
UPDATED2026-10-14 17:32 · Model: GPT-6 Luna
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