クラウドテスティングサービス
Cloud Testing Service
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Comment Output IP
半導体テストシステムの設計・製造・販売
半導体デバイス向けテスト装置の開発
メモリテスト・測定機器の提供
テストソリューションのコンサルティングサービス
半導体製造プロセスにおける検査・品質管理サービス
〒100-0005 東京都千代田区丸の内1-6-2 新丸の内センタービルディング
10,000,000,000 円 (100 億円)
株式会社ソシオネクスト
ソニー株式会社
大日本印刷株式会社
株式会社デンソー
東京エレクトロンデバイス株式会社
日本電子材料株式会社
パナソニック・タワージャズセミコンダクター株式会社
株式会社日立製作所
ファナック株式会社
富士通セミコンダクター株式会社
ブラザー工業株式会社
株式会社ブルックマンテクノロジ
マイクロンメモリ ジャパン株式会社
三菱重工業株式会社
ヤマハ株式会社
株式会社東芝 ストレージ＆デバイスソリューション社
AP Memory Technology Corp.
Avago Technologies.
GLOBALFOUNDRIES Singapore Pte. Ltd.
Marvell Semiconductor, Inc.
Microchip Technology Inc.
Qualcomm Technologies, Inc.
soulbrain ENG Co Ltd.
STMicroelectronics Srl
Xilinx, Inc.
愛三工業株式会社
ウルトラメモリ株式会社
株式会社エルイーテック
コアスタッフ株式会社
光山電気工業株式会社
セイコーNPC株式会社
Hanyang University
JSC “ICC Milandr”
Ming Hsin University of Science and Technology
九州工業大学
仙台高等専門学校
東京大学
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